Electron microdiffraction / (Record no. 810199)

000 -CABECERA
Longitud fija campo de control 01665nam a2200325u 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
Número de control US0403804136
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
Identificador del nnúmero de control OSt
008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA
Códigos de información de longitud fija 051226s0992 us d f 001 0 eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS
Número Internacional Normalizado para Libros (ISBN) 0-306-44262-0
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador UCA-CYT
Centro transcriptor UCA
100 1# - PUNTO DE ACCESO PRINCIPAL-NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Spence, J.C.H.
9 (RLIN) 236127
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Electron microdiffraction /
Mención de responsabilidad, etc. J.C.H. Spence and J.M. Zuo
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA)
Lugar de publicación, distribución, etc. New York :
Nombre del editor, distribuidor, etc. Plenum Press,
Fecha de publicación, distribución, etc. 1992
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 358 p. :
Otras características físicas gráf. ;
Dimensiones 25 cm
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Indice
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC
Nota de bibliografía, etc. Bibliografía
520 ## - NOTA DE SUMARIO
Sumario, etc, This comprehensive and practical book offers a concise summary of the current theory and practice of this important microscopy technique. An extensive listing of materials is included as well as several FORTRAN programs and the PostScript code to allow printing of Holz line patterns on a laser printer. The readable text makes this volume valuable for both researchers and graduate students.
520 ## - NOTA DE SUMARIO
Sumario, etc, INDICE: A brief history of electron microdiffraction. The geometry of CBED patterns. Theory. The measurement of Low-Order structure factors and thickness. Applications of three-and many-beam theory. Large-angle methods. Symmetry determination. Coherent nanoprobes. STEM. Defects and amorphous materials. Instrumentation and experiemtnal technique.
650 04 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Películas delgadas
Subdivisión de materia general Propiedades ópticas
9 (RLIN) 12281
650 04 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Optica cristalográfica
9 (RLIN) 5437
650 04 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Electrones
Subdivisión de materia general Difracción
9 (RLIN) 5459
650 04 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 4161
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Química del estado sólido
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Zuo, J.M.,
Término indicativo de función coautor
9 (RLIN) 236128
909 ## - No. registro Millennium
-- cyt
-- -
942 ## - ENTRADA DE ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA)
Suprimir del OPAC No
998 ## - CONTROL LOCAL DE INFORMACIÓN (RLIN)
Iniciales de operador, IOP (RLIN) 2
Iniciales de catalogador, INC (RLIN) 060209
Primera fecha, PF (RLIN) m
-- a
-- -
-- 0
907 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR
Catalogador/a 84ds2
907 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR
Catalogador/a mtp
Biblioteca, fecha crsp0602
907 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR
Catalogador/a mld-x
Biblioteca, fecha crsp120530
Holdings
Retirado Motivo Retirado No para préstamo Localización permanente Fecha adquisición Tipo de adquisición Préstamos totales Renovaciones totales Signatura completa Código de barras Prestado Fecha última consulta Identificador uniforme de recurso Préstamo Tipo de ítem Fecha último préstamo
      02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL 2016-10-29 Compra 1 14 539.27/SPE/ele 374145565X 2020-01-31 2016-10-29 i31266824 PREST. LIBROS Monografías  
      02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL 2016-10-29 Compra 2 6 539.27/SPE/ele 3743751215 2020-01-31 2016-10-29 i33589446 PREST. LIBROS Monografías 2012-06-01

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