Semiconductor material and device characterization / Dieter K. Schroder
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TextoDetalles de publicación: New York ; Chichester : Wiley, c1998 Edición: 2nd edDescripción: xxiv,760p : ill ; 25cmISBN: 0-471-24139-3; 0471241393Tema(s): Semiconductors -- Testing | Semiconductores
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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| Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 621.315.5/SCH/sem (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3720930944 |
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A Wiley-Interscience publication
Includes index
Previous ed.: 1990
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