Defect and microstructure analysis by diffraction / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Bunge
Tipo de material:
TextoSeries International Union of Crystallography monographs on crystallography ; 10Detalles de publicación: New York : Oxford University press , 1999 Descripción: 785 p. : il. ; 24 cmISBN: 0-19-850189-7Tema(s): Rayos X -- Difracción | Cristales -- Defectos
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| Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 548.4/SNY/def (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Prestado | 31/01/2025 | 374000686x |
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