An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F Watts
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: Chichester : John Wiley & Sons, 2003 Descripción: X, 212 p. ; 24 cmISBN: 0-470-84713-1Tema(s): Física -- Espectroscopia | Superficies (Tecnología) -- Análisis | Espectroscopía electrónica | Espectroscopía de rayos XTipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Bibliografía recomendada |
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Fuera de préstamo | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | Grupo Catálisis.Dpto. Ciencia de los materiales - 543.42/WAT/int (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | No para préstamo (Uso restringido) | 3740549133 | |||
Manuales | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 543.42/WAT/int (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3745285433 |
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