An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F Watts

Por: Watts, John FColaborador(es): Wolstenholme, JohnTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Chichester : John Wiley & Sons, 2003 Descripción: X, 212 p. ; 24 cmISBN: 0-470-84713-1Tema(s): Física -- Espectroscopia | Superficies (Tecnología) -- Análisis | Espectroscopía electrónica | Espectroscopía de rayos X
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