Fundamentos de metrología / Ángel María Sánchez Pérez

By: Sánchez Pérez, Ángel MaríaMaterial type: TextTextSeries: Monografías del departamento de física aplicada ; 3Publication details: Madrid : Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales, Universidad Politécnica de Madrid, 1999 Description: 80 p. ; 28 cmISBN: 978-84-7484-138-1Subject(s): Medición -- Terminología | Pesos y medidasSummary: Esta monografía es la primera que publica el Departamento de Física Aplicada a la Ingeniería industrial sobre metrología y es fruto de un largo periodo de trabajo sobre esta materia en el que un grupo de profesores y colaboradores reunidos alrededor del Laboratorio de Metrología y Metrotecnia han debatido e intercambiado ideas que han ido cristalizado en una doctrina metrológica.Summary: Índice: Introducción. Incertidumbre de medida. Cuantificación de la incertidumbre. Trazabilidad y calibración. Otras formas de asegurar la trazabilidad. Casos prácticos. Biobliografía.
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Manuales 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL
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Esta monografía es la primera que publica el Departamento de Física Aplicada a la Ingeniería industrial sobre metrología y es fruto de un largo periodo de trabajo sobre esta materia en el que un grupo de profesores y colaboradores reunidos alrededor del Laboratorio de Metrología y Metrotecnia han debatido e intercambiado ideas que han ido cristalizado en una doctrina metrológica.

Índice: Introducción. Incertidumbre de medida. Cuantificación de la incertidumbre. Trazabilidad y calibración. Otras formas de asegurar la trazabilidad. Casos prácticos. Biobliografía.

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