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		VLSI test principles and architectures [Recurso electrónico] : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen por Wang, Laung-Terng \| Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D \| Wen, Xiaoqing. Tipo de material: Texto; Formato: electrónico ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. por Wang, Laung-Terng \| Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D \| Wen, Xiaoqing. Series The Morgan Kaufmann series in systems on silicon \| Elsevier Engineering InformationTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006Disponibilidad: No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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