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Structure determination by X-Ray crystallography / M.F.C. Ladd,R.A. Palmer

por Ladd, M. F. C, (Marcus Frederick Charles) | Palmer, R.A | Ladd, M. F. C, Marcus Frederick Charles.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York : Plenum Press, 1994Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (2)Ubicación, signatura topográfica: 548/LAD/str, ...

X-Ray diffraction : a practical approach / C. Suryanarayana and M. Grant Norton

por Suryanarayana, C | Norton, M. Grant.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Plenum Press, cop. 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Servicio Centrales de Ciencia y Tecnología - 535.42-34/SUR/xra.

Characterization of crystal growth defects by X-ray methods : [proceedings of NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods, held August 29-September 10, 1979, at Durham University, Durham, United Kingdom] / edited by Brian K. Tanner and D. Keith Bowen

por NATO Advanced Study Institute on Characterization of Crystal Growth Defects by X-ray Methods (1979. Durham, England) | Tanner, B. K, Brian Keith | Bowen, D. Keith, David Keith.

Series NATO advanced study institutes, Physics. Series B ; ; v. 63Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York, N.Y : Plenum Press, c1980Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1).

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