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		Microscopía Electrónica / tr. por J.M. Rojo y J. Serna por Hall, Cecil E. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Bilbao : Urmo, 1970Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Fís. Aplicada - 537.533.35/HAL/mic. No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis / David C. Joy por Joy, David C. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Oxford : Oxford University, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito-537.533/JOY/mon. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Transmission electron microscopy : a textbook for materials science / David B. Williams, C. Barry Carter por Williams, David B \| Carter, C. Barry. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2009Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Elastic and inelastic scattering in electron diffraction and imaging / Zhong Lin Wang por Lin Wang, Zhong. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York : Plenum Press, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 539.27/ZHO/ela. Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 535.4/LIN/ela. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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