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		Métodos de difracción de rayos X : principios y aplicaciones / Joaquín Bermúdez-Polonio por Bermudez-Polonio, Joaquín. Series Ciencia y técnica (Pirámide)Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Madrid : Pirámide, D.L. 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 00. BIBLIOTECA CAMPUS DE ALGECIRAS (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito-535.42-34/BER/met. 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (4)Ubicación, signatura topográfica: 535.42-34/BER/met, ... Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Q’um. Analít. - 535.42-34/BER/met. No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		X-Ray diffraction : a practical approach / C. Suryanarayana and M. Grant Norton por Suryanarayana, C \| Norton, M. Grant. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Plenum Press, cop. 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Servicio Centrales de Ciencia y Tecnología - 535.42-34/SUR/xra. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		P.P. Ewald and his dynamical theory of X-ray diffraction : a memorial volume for Paul P. Ewald 23 January 1888-22 August 1985 / edited by D.W.J. Cruick, H.J. Juretschke and N. Kato Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: OXford : University Press, 1992Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 537.531/PPE. Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Cristalog.Min. - 537.531/PPE. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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