Tensiones residuales y tensiones por difracción de rayos-X / Santiago Sánchez Beitia
Tipo de material:
TextoDetalles de publicación: [Lejona] : Universidad del País Vasco = Argitarapen Zerbitzua, Euskal Herriko Universitatea, D.L. 1990 Descripción: 81 p : il ; 23 cmISBN: 84-7585-272-6; 84-7585-272-6Tema(s): Tensiones residuales | Rayos X -- Difracción | Materiales -- Propiedades
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | Depósito-Zona de Descanso - 620.17/SAN/ten (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3700268432 |
Total de reservas: 0
Bibliogr.: p. 79
No hay comentarios en este titulo.