Surface analysis : the principal techniques / edited by John C. Vickerman
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TextoDetalles de publicación: Chichester [etc.] : John Wiley & Sons , cop. 2004 Edición: 1st. ed., 6th repr.Descripción: 457 p. ; 23 cmISBN: 0471972924Tema(s): Superficies (Tecnología) -- Análisis | Superficies (Física) | Química de superficies -- Metodología | Superficies (Tecnología)Resumen: Índice: Introduction. Vacuum technology for applied surface science. Electron spectroscopy for chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Secondary ion mass spectrometry-the surface mass spectrometry. Low-energy ion scattering and rutherford backscattering. Vibrational spectroscopy from surfaces. Surface structure determination by interference techniques. Scanning tunnelling microscopy and atomic force microscopy. Index
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| Fuera de préstamo | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | Grupo Catálisis.Dpto. Ciencias de los Materiales - 544.47/SUR (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | No para préstamo (Uso restringido) | 3740549189 | ||
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| Manuales | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 544.7/SUR (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3741663913 |
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Índice: Introduction. Vacuum technology for applied surface science. Electron spectroscopy for chemical analysis. Auger electron spectroscopy. Secondary ion mass spectrometry-the surface mass spectrometry. Low-energy ion scattering and rutherford backscattering. Vibrational spectroscopy from surfaces. Surface structure determination by interference techniques. Scanning tunnelling microscopy and atomic force microscopy. Index
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