Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: New York ; London : Plenum, c1986 Descripción: xvi, 448 p : ill ; 26cmISBN: 0-306-42387-1Tema(s): Electron microscopy | Microscopía electrónicaClasificación CDD: 502, .8Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 543.4/PRI (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 370161651X |
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