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		Monte Carlo modeling for electron microscopy and microanalysis / David C. Joy por Joy, David C. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Oxford : Oxford University, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito-537.533/JOY/mon. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Introduction to analytical electron microscopy / edited by John J. Hren, Joseph I. Goldstein and David C. Joy por Hren, John J \| Goldstein, Joseph I \| Joy, David C \| Electron Microscopy Society of America \| Microbeam Analysis Society. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York ; London : Plenum Press, 1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito - 53753335/INT. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein por Joy, David C., David Charles \| Romig, A.D., Alton Dale \| Goldstein, Joseph I., Joseph Irwin. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York ; London : Plenum, c1986Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 543.4/PRI. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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