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		VLSI test principles and architectures : design for testability / edited by Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen. por Wang, Laung-Terng \| Wu, Cheng-Wen, EE Ph. D \| Wen, Xiaoqing. Series The Morgan Kaufmann series in systems on silicon \| Elsevier Engineering InformationTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Amsterdam ; Boston : Elsevier Morgan Kaufmann Publishers, c2006Disponibilidad: No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		HDL chip design : a practical guide for designing, synthesizing, and simulating ASICs and FPGAs using VHDL or Verilog Douglas J. Smith ; foreword by Alex Zamfirescu por Smith, Douglas J \| Zamfirescu, Alex. Edición: 9th printingTipo de material: Texto Detalles de publicación: Madison, AL : Doone Publications, 2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 681.3.06/SMI/hdl. (1 votos) Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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