Introduction to conventional transmission electron microscopy / Marc De Graef
Detalles de publicación: Cambridge, U.K. : Cambridge University Press, 2003 Descripción: xxi, 718 p. : ilISBN: 0521629950 (rúst.); 0521620066 (hardback)Tema(s): Transmission electron microscopy | Microscòpia electrònica de transmissió | Física | Microscopía electrónica de transmisiónTambién disponible en papel
Contenidos:
Basic crystallography -- Basic quantum mechanics, Bragg's Law and other tools -- The transmission electron microscope -- Getting started -- Dynamical electron scattering in perfect crystals -- Two-beam theory in defect-free crystals -- Systematic row and zone axis orientations -- Defects in crystals -- Electron diffraction patterns -- Phase contrast microscopy
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | Bibliografía recomendada |
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| Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 620.1/DEG/int (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3741699337 | |||
| Manuales | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 620.1/DEG/int (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | 3743188227 | |||
| Monografías | 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL | 620.1/GRA/int (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Prestado | 31/01/2025 | 374170475X |
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p. 685-703
Basic crystallography -- Basic quantum mechanics, Bragg's Law and other tools -- The transmission electron microscope -- Getting started -- Dynamical electron scattering in perfect crystals -- Two-beam theory in defect-free crystals -- Systematic row and zone axis orientations -- Defects in crystals -- Electron diffraction patterns -- Phase contrast microscopy
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