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Electron microscopy in molecular biology : a practical approach / edited by J. Sommerville and U. Scheer

por Sommerville, J | Scheer, U.

Series Practical approachTipo de material: Texto Texto Detalles de publicación: Oxford : IRL Press, 1987Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Bio. Ani. Veg. - 577.2.086/ELE.

Electron microscopy of interfaces in metals and alloys / C.T. Forwood and L.M. Clarebrough

por Forwood, C. T | Clarebrough, L. M.

Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Bristol, England ; Philadelphia : A. Hilger, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 620.1/FOR/ele.

Scanning electron microscopy, X-ray microanalysis and analytical electron microscopy : a laboratory workbook / Charles E.Lyman ... [and others]

por Lyman, Charles E.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Plenum Pres, 1990Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 537.533.35/SCA. No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1).

High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst and M. Rühle (eds.).

por Rühle, Manfred | Ernst, F.

Series Springer series in materials science, 0933-033X ; ; 50Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Servicio Central de Ciencia y Tecnología - 537.533.35/HIG.

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