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		High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst and M. Rühle (eds.). por Rühle, Manfred \| Ernst, F. Series Springer series in materials science, 0933-033X ; ; 50Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Servicio Central de Ciencia y Tecnología - 537.533.35/HIG. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Electron microscopy of interfaces in metals and alloys / C.T. Forwood and L.M. Clarebrough por Forwood, C. T \| Clarebrough, L. M. Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Bristol, England ; Philadelphia : A. Hilger, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 620.1/FOR/ele. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Introduction to conventional transmission electron microscopy / Marc De Graef por De Graef, Marc. Detalles de publicación: Cambridge, U.K. : Cambridge University Press, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (2)Ubicación, signatura topográfica: 620.1/DEG/int, ... No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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