Principles of analytical electron microscopy / edited by David C. Joy, Alton D. Romig, Jr. and Joseph I. Goldstein

Colaborador(es): Joy, David C., David Charles | Romig, A.D., Alton Dale | Goldstein, Joseph I., Joseph IrwinTipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: New York ; London : Plenum, c1986 Descripción: xvi, 448 p : ill ; 26cmISBN: 0-306-42387-1Tema(s): Electron microscopy | Microscopía electrónicaClasificación CDD: 502, .8
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