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		The pattern recognition basis of artificial intelligence / Donald R. Tveter por Tveter, Donald R. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Washington : Computer Society, 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (2)Ubicación, signatura topográfica: Q’um. Analít. - 681.31/TVE/pat, ... Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Pattern recognition and machine learning / Christopher M. Bishop por Bishop, Christopher M. Series Information science and statisticsTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 681.3/BIS/pat. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Pattern recognition / Sergios Theodoridis, Konstantinos Koutroumbas por Theodoridis, Sergios \| Koutroumbas, Konstantinos. Edición: 4th ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Amsterdam : Syngress, 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (6)Ubicación, signatura topográfica: 681.3/THE/pat, ... No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (2). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Pattern recognition and machine learning / Christopher M. Bishop por Bishop, Christopher M. Series Information science and statisticsTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 681.3/BIS/pat. No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Information Theory in Computer Vision and Pattern Recognition / by Francisco Escolano, Pablo Suau, Boyán Bonev. por Escolano, Francisco \| Suau, Pablo \| Bonev, Boyán. Tipo de material: Archivo de ordenador; Formato: electrónico Detalles de publicación: London : Springer London, 2009Disponibilidad: No disponible:01. BIBLIOTECA CAMPUS JEREZ: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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