High-resolution imaging and spectrometry of materials / F. Ernst and M. Rühle (eds.).
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TextoSeries Springer series in materials science, 0933-033X ; ; 50Detalles de publicación: New York : Springer, 2003 Descripción: 440 pISBN: 3540418180 Tema(s): Materiales -- Microscopía | Materials -- Microscopy | Transmission electron microscopy | Materials -- Micròscòpia
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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| Fuera de préstamo | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | Servicio Central de Ciencia y Tecnología - 537.533.35/HIG (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | No para préstamo (Uso restringido) | 3740554302 |
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