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		Applied logistic regression / David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow por Hosmer, David W \| Lemeshow, Stanley. Tipo de material: Artículo Detalles de publicación: New York : Wiley & Sons, 1989Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 01. BIBLIOTECA CAMPUS JEREZ (1)Ubicación, signatura topográfica: ES-188. Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Matemáticas - 519.233.5/HOS/app. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Bayesian regression modeling with INLA / Xiaofeng Wang, Yu Ryan Yue, Julian J. Faraway. por Wang, Xiaofeng \| Yue, Yu Ryan, 1981- \| Faraway, Julian James. Series Chapman & Hall/CRC Computer Science & Data Analysis Series. StatisticsTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Boca Ratón : CRC Press, 2018Otro título: Bayesian regression modeling with integrated Laplace approximation.Disponibilidad: No disponible:01. BIBLIOTECA CAMPUS JEREZ: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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