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		Spectroscopic ellipsometry : principles and applications / Hiroyuki Fujiwara por Fujiwara, Hiroyuki. Edición: Printed with correctionsTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Chichester : Wiley, 2009Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization por Tompkins, Harland G \| Hilfiker, James N [autor]. Series Materials Characterization and Analysis Collection Detalles de publicación: New York : Momentum Press, 2015Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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