Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization

Por: Tompkins, Harland GColaborador(es): Hilfiker, James N [autor]Series Materials Characterization and Analysis CollectionDetalles de publicación: New York : Momentum Press, 2015 Descripción: XXIII, 159 pISBN: 1606507273Tema(s): Espectroscopía | Elipsometría
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