Spectroscopic Ellipsometry: Practical Application to Thin Film Characterization
Series Materials Characterization and Analysis CollectionDetalles de publicación: New York : Momentum Press, 2015 Descripción: XXIII, 159 pISBN: 1606507273Tema(s): Espectroscopía | ElipsometríaTipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 543.42/TOM/spe (Navegar estantería(Abre debajo)) | Prestado | 31/01/2025 | 3744368531 |
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