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		Pattern recognition technologies and applications : recent advances / Brijesh Verma, Michael Blumenstein por Verma, Brijesh \| Blumenstein, Michael. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Hershey : Idea, 2008Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 681.3/VER/pat. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Pattern formation in diffusion-limited crystal growth / Klaus Kassner por Kassner, Klaus. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Singapore ; River Edge, NJ : World Scientific, c1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 548.2/KAS/pat. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Pattern classification : a unified view of statistical and neural approaches / Jürgen Scgürmann por Schürmann, Jürgen. Tipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York [etc.] : John Wiley and Sons, cop.1996Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Dpto. Estadística - 519.2:681.3/SCH/pat. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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