Su búsqueda obtuvo 8 resultados.

Ordenar
Resultados
Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction / Rolf Erni

por Erni, Rolf.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: London : Imperial college press, 2010Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Grupo de investigación FQM 334 - 537.533.35/ERN/abe.

Aberration-corrected imaging in transmission electron microscopy : an introduction / Rolf Erni

por Erni, Rolf.

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: London : Imperial College Press, 2015Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 537.533.35/ERN/abe. Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Grupo de investigación FQM 334 - 537.533.35/ERN/abe.

Electron tomography : methods for three-dimensional visualization of structures in the cell / Joachim Frank, editor

por Frank, Joachim [editor literario].

Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2006Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1).

Scanning transmission electron microscopy : imaging and analysis / edited by Stephen J. Pennycook, Peter D. Nellist

por Pennycook, Stephen J | Nellist, Peter D.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York : Springer, 2010Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Grupo de investigación FQM 334 - 537.533.35/SCA. No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1).

Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy / edited by Rik Brydson

por Brydson, Rik [editor literario].

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Chichester, West Sussex : RMS-Wiley, 2011Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 537.533.35/ABE.

Introduction to conventional transmission electron microscopy / Marc De Graef

por De Graef, Marc.

Detalles de publicación: Cambridge, U.K. : Cambridge University Press, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (2)Ubicación, signatura topográfica: 620.1/DEG/int, ... No disponible:03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL: Prestado (1).

Electron microscopy of interfaces in metals and alloys / C.T. Forwood and L.M. Clarebrough

por Forwood, C. T | Clarebrough, L. M.

Series Electron microscopy in materials science seriesTipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Bristol, England ; Philadelphia : A. Hilger, c1991Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 620.1/FOR/ele.

Transmission electron microscopy of minerals and rocks / Alex McLaren

por Mac Laren, Alex C.

Series Cambridge Topics in Mineral Physics and Chemistry ; 2Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Cambridge : Cambridge University Press, 1991Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: S.Cen.Cien.Tec - 549.08/MAC/tra.

Páginas

Con tecnología Koha