The test access port and boundary scan architecture / Colin M. Maunder and Rodham E. Tullos
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TextoDetalles de publicación: Los Alamitos, California : IEEE Computer Society Press, 1992 Descripción: XXII, 372 pISBN: 0-8186-9070-4Tema(s): Circuitos electrónicos -- Proceso de datos | Arquitectura de ordenadores
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | URL | Estado | Notas | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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| Monografías | 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL | Depósito-621.38.04/MAU/tes (Navegar estantería(Abre debajo)) | Texto completo | Disponible Ubicación en estantería | Bibliomaps® | PREST. LIBROS | 3702257227 |
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