Kelvin probe force micrsoscopy : measuring and compensating electrostatic forces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors
Tipo de material:
TextoSeries Springer Series in Surface Sciences ; 48Detalles de publicación: Berlin : Springer, cop. 2012 Edición: Softcover editionDescripción: xiv, 331 p. : il., gráf. ; 24 cmISBN: 9783642271137Tema(s): Microscopía de fuerza atómica | Electrostática
| Tipo de ítem | Biblioteca de origen | Signatura | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Monografías | 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL | 537.533.35/KEL (Navegar estantería(Abre debajo)) | Prestado | 31/01/2025 | 3744891242 |
Total de reservas: 0
No hay comentarios en este titulo.