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X-Ray fluorescence spectrometry / Ron Jenkins.

por Jenkins, Ron.

Series Chemical analysis ; 152Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: New York [etc.] : Wiley, cop. 1999Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Serv.Cent.Cien.y Tec. - 543.427/JEN/xra.

X-ray spectroscopy / edited by Leonid V. Azároff

por Azároff, Leonid Vladimirovich.

Series International series in pure and applied physicsTipo de material: Texto Texto Detalles de publicación: New York ; London : McGraw-Hill, 1974Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito - 535.33-34/XRA.

A practical guide for the preparation of specimens for x-ray fluorescence and x-ray diffraction analysis / edited by Victor E. Buhrke, Ron Jenkins, Deane K. Smith

por Buhrke, Victor E | Jenkins, Ron | Smith, Deane K.

Tipo de material: Texto Texto Detalles de publicación: New York : Wiley-VCH , cop. 1998Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 535.33-34/PRA.

Advances in X-ray spectroscopy : contributions in honour of Professor Y. Cauchois / editors C. Bonnelle and C. Mandé

por Bonnelle, C | Mandé, C | Cauchois, Y., Yvette.

Tipo de material: Texto Texto festschrift Detalles de publicación: Oxford : Pergamon, 1982Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 535.33-34/BON/adv.

Gamma and X-Ray spectrometry with semiconductor detectors / Klaus Debertin and Richard G. Helmer

por Debertin, Klaus | Helmer, Richard G.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: Amsterdam : Elsevier, 1988Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 543.42/DEB/gam.

Laser light scattering / Charles S. Johnson Jr, and Don A. Gabriel

por Johnson, Charles S | Gabriel, Don A.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York : Dover Publications, 1981Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 54-77/JOH/las.

An introduction to surface analysis by XPS and AES / John F Watts

por Watts, John F | Wolstenholme, John.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Chichester : John Wiley & Sons, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 543.42/WAT/int. Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Grupo Catálisis.Dpto. Ciencia de los materiales - 543.42/WAT/int.
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Electron spin resonance : elementary theory and practical applications / John E. Wertz, James R. Bolton

por Wertz, John E, (John Edward,), 1916- | Botton, James R, James Robert, 1937-.

Tipo de material: Texto Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York ; London : Chapman and Hall, 1986Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Quím. Inorgán. - 543.51/WER/ele.

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