Detalles MARC
000 -CABECERA |
Longitud fija campo de control |
01340nam a2200349 4500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL |
Número de control |
DAW20856913 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
Identificador del número de control |
OSt |
008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA |
Códigos de información de longitud fija |
120128s2011 ohua bf 001 0 eng |
010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
Número de control de LC |
2012359075 |
015 ## - NÚMERO DE BIBLIOGRAFÍA NACIONAL |
Número de bibliografía nacional |
GBB294807 |
Fuente |
bnb |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
Número Internacional Normalizado para Libros (ISBN) |
9781615037254 |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL NORMALIZADO PARA LIBROS |
ISBN cancelado o no válido |
9781615038343 (CD-ROM) |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
Centro catalogador |
UCA-CYT |
Centro transcriptor |
UCA |
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO |
Título |
Microelectronics failure analysis : |
Resto del título |
desk reference / |
Mención de responsabilidad, etc. |
edited by Richard J. Ross. |
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
Mención de edición |
6th ed. |
260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
Lugar de publicación, distribución, etc. |
Materials Park, Ohio : |
Nombre del editor, distribuidor, etc. |
ASM International, |
Fecha de publicación, distribución, etc. |
c2011. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
Extensión |
xi, 660 p. : |
Otras características físicas |
ill. ; |
Dimensiones |
28 cm. + |
Material anejo |
1 CD-ROM (4 3/4 in.) |
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC |
Nota de bibliografía, etc. |
Includes bibliographical references and index. |
538 ## - NOTA DE DETALLES DEL SISTEMA |
Nota de detalles del sistema |
System requirements for accompanying CD-ROM: Windows 95/98/NT/ME/2000/XP ; Macintosh 8/9/Classic. |
650 04 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Electrónica |
9 (RLIN) |
3839 |
650 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Electronics |
Subdivisión de materia general |
Materials |
-- |
Testing |
Subdivisión de forma |
Handbooks, manuals, etc. |
650 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microelectronics |
Subdivisión de materia general |
Materials |
-- |
Testing |
Subdivisión de forma |
Handbooks, manuals, etc. |
650 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microelectronics |
Subdivisión de materia general |
Materials |
-- |
Defects |
Subdivisión de forma |
Handbooks, manuals, etc. |
650 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Electronic apparatus and appliances |
Subdivisión de materia general |
Testing |
Subdivisión de forma |
Handbooks, manuals, etc. |
650 00 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Semiconductors |
Subdivisión de materia general |
Defects |
Subdivisión de forma |
Handbooks, manuals, etc. |
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE PERSONA |
Nombre de persona |
Ross, Richard J. |
909 ## - No. registro Millennium |
-- |
cyt |
-- |
- |
942 ## - ENTRADA DE ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA) |
Suprimir del OPAC |
No |
998 ## - CONTROL LOCAL DE INFORMACIÓN (RLIN) |
Iniciales de operador, IOP (RLIN) |
0 |
Iniciales de catalogador, INC (RLIN) |
130503 |
Primera fecha, PF (RLIN) |
m |
-- |
a |
-- |
- |
-- |
0 |
907 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR |
Catalogador/a |
84lci |
907 ## - CÓDIGO DE CATALOGADOR |
Catalogador/a |
mld |
Biblioteca, fecha |
crsp130503 |