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		Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials / edited by Mario Lanza. por Lanza, Mario [editor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Weinheim, Germany : Wiley-VCH, 2017Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Atomic force microscopy : biomedical methods and applications / edited by Pier Carlo Braga, Davide Ricci. por Braga, Pier Carlo \| Ricci, Davide. Series Methods in molecular biology (Clifton, N.J.) ; 242.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Totowa, N.J. : Humana Press, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (2)Ubicación, signatura topográfica: 577.2/ATO, ... Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Atomic force microscopy / Peter Eaton, Paul West por Eaton, Peter \| West, Paul [coautor]. Edición: 1st pub., 3rd rep.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Oxford : Oxford University, 2014Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 681.723/EAT/ato. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Atomic force microscopy : understanding basic modes and advanced applications / Greg Haugstad. por Haugstad, Greg, 1963-. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: Inglés Detalles de publicación: Hoboken, N.J. : John Wiley & Sons, c2012Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Kelvin probe force micrsoscopy : measuring and compensating electrostatic forces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors por Sadewasser, Sascha [editor] \| Glatzel, Thilo [editor]. Series Springer Series in Surface Sciences ; 48Edición: Softcover editionTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Berlin : Springer, cop. 2012Disponibilidad: No disponible:02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Prestado (1). Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics [Recurso electrónico] : Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments / by Hui Xie, Cagdas Onal, StÃ©phane RÃ©gnier, Metin Sitti. por Xie, Hui \| Onal, Cagdas \| RÃ©gnier, StÃ©phane \| Sitti, Metin. Series Springer Tracts in Advanced Robotics, 1610-7438 ; ; 71Tipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Berlin, Heidelberg : Springer Berlin Heidelberg, 2012Disponibilidad: No hay ítems disponibles. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Noncontact atomic force microscopy. Vol. 2 / edited by Seizo Morita, Franz J. Giessible, Roland Wiesendanger. por Morita, S. (Seizo), 1948- \| Giessibl, Franz J \| Wiesendanger, R. (Roland), 1961-. Series Nanoscience and technologyTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Berlin ; London : Springer, 2009Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 621.039/NON. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Noncontact atomic force microscopy. Vol. 1 / S. Morita, R. Wiesendanger, E. Meyer, (eds.) por Morita, S. (Seizo) [editor literario] \| Wiesendanger, R. (Roland) [editor literario] \| Meyer, E. (Ernst) [editor literario]. Series Nanoscience and technologyTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Berlin : Springer, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: 621.039/NON. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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