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		Metal impurities in silicon-device fabrication / Klaus Graff por Graff, Klaus, 1931-. Series Springer series in materials science ; 24Edición: 2nd, rev. edTipo de material: Texto; Formato: impreso Detalles de publicación: New York : Springer, 1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: 03. BIBLIOTECA INGENIERÍA PUERTO REAL (1)Ubicación, signatura topográfica: Depósito-621.315.5/GRA/met. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)
		Contamination control in trace element analysis / Morris Zief, James W. Mitchell por Zief, Morris \| Mitchell, James W. Series Chemical analysis ; vol.47Tipo de material: Texto Detalles de publicación: New York ; London : Wiley, 1976Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: 02. BIBLIOTECA CAMPUS PUERTO REAL: Not for loan (1)Ubicación, signatura topográfica: Q’um. Analít. - 543.064:574.2/ZIE/con. Solicitud de artículo Ingresar para agregar etiquetas Agregar al carrito (eliminar)

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